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基礎(chǔ)信息Product information
產(chǎn)品名稱(chēng):

半導(dǎo)體封裝材料熱刺激電流測(cè)試儀/TSDC

產(chǎn)品型號(hào):HC-TSC2000

廠(chǎng)商性質(zhì):生產(chǎn)廠(chǎng)家

所在地:北京市

更新日期:2024-09-14

產(chǎn)品簡(jiǎn)介:

半導(dǎo)體封裝材料熱刺激電流測(cè)試儀/TSDC,廣泛應(yīng)用于電力、絕緣、生物分子等領(lǐng)域,用于研究材料性能的一些關(guān)鍵因素,諸如分子弛豫、相轉(zhuǎn)變、玻璃化溫度等等,通過(guò)TSDC技術(shù)也可以比較直觀(guān)的研究材料的弛豫時(shí)間、活化能等相關(guān)的介電特性。TSDC技術(shù)也可以比較直觀(guān)的研究材料的弛豫時(shí)間、活化能等相關(guān)的介電特性。

產(chǎn)品特性Product characteristics
品牌華測(cè)

 


半導(dǎo)體封裝材料熱刺激電流測(cè)試儀/TSDC

TSDC熱刺激電流測(cè)試儀





        HC-TSC2000華測(cè)儀器熱刺激電流測(cè)試儀,其具有測(cè)試功能,設(shè)備支持測(cè)試電壓10kV,采用冷臺(tái)的方式進(jìn)行加溫與制冷,測(cè)量引用使用低噪聲線(xiàn)纜,減少測(cè)試導(dǎo)線(xiàn)的影響,同時(shí)電極加熱采用直流電極加熱方式,減少電網(wǎng)諧波對(duì)測(cè)量?jī)x表的干擾。測(cè)試功能上也增加了高阻測(cè)試、擊穿測(cè)試、也方便擴(kuò)展介電譜等測(cè)量功能。它能夠在不同測(cè)量條件和測(cè)量模式下進(jìn)行連續(xù)和高速的測(cè)量!





華測(cè)儀器熱刺激電流測(cè)試儀特點(diǎn):


支持的硬件:

外置6517B或其它高壓直流電源

外置的高壓放大器(+/-100V到+/-10 kV)塊體陶瓷樣品夾具

溫度控制器和溫度腔



測(cè)試功能:

熱釋電測(cè)試

漏電流測(cè)試

用戶(hù)定義激勵(lì)波形


半導(dǎo)體封裝材料熱刺激電流測(cè)試儀/TSDC



 提升了熱刺激電流測(cè)試儀量精度

HC-TSC2000熱刺激電流測(cè)試儀由華測(cè)儀器多位工程師多年開(kāi)發(fā),其具有不錯(cuò)的測(cè)試功能,設(shè)備可支持測(cè)試電壓10kV,采用冷臺(tái)的方式進(jìn)行加溫與制冷,測(cè)量引用使用低噪聲線(xiàn)纜,減少測(cè)試導(dǎo)線(xiàn)的影響,同時(shí)電極加熱采用直流電極加熱方式,減少電網(wǎng)諧波對(duì)測(cè)量?jī)x表的干擾。同時(shí)測(cè)試功能上也增加了高阻測(cè)試、擊穿測(cè)試、也方便擴(kuò)展介電溫譜等測(cè)量功能。它能夠在不同測(cè)量條件和測(cè)量模式下進(jìn)行連續(xù)和高速的測(cè)量!




當(dāng)您在選擇高低環(huán)境下進(jìn)行TSDC測(cè)量,您要重點(diǎn)考慮如下的問(wèn)題?

  在受熱過(guò)程中建立極化態(tài)或解除極化態(tài)時(shí)所產(chǎn)生的短路電流。基本方法是將試樣夾在兩電極之間,加熱到一定溫度使樣品中的載流子激發(fā),然后施加一個(gè)直流的極化電壓,經(jīng)過(guò)一段時(shí)間使樣品充分極化,以便載流子向電極漂移或偶極子充分取向,隨后降溫到低溫,使各類(lèi)極化“凍結(jié)",然后以等速率升溫,同時(shí)記錄試樣經(jīng)檢流計(jì)短路的去極化電流隨溫度的變化關(guān)系,即得到TSDC譜“凍結(jié)",然后以等速率升溫,同時(shí)記錄試樣經(jīng)檢流計(jì)短路的去極化電流隨溫度的變化關(guān)系,即得到TSDC譜TSDC/TSC-3000  型熱激勵(lì)去極化電流測(cè)量系統(tǒng)應(yīng)用:
  廣泛應(yīng)用于電力、絕緣、生物分子等領(lǐng)域,用于研究材料性能的一些關(guān)鍵因素,諸如分子弛豫、相轉(zhuǎn)變、玻璃化溫度等等,通過(guò)TSDC技術(shù)也可以比較直觀(guān)的研究材料的弛豫時(shí)間、活化能等相關(guān)的介電特性。TSDC技術(shù)也可以比較直觀(guān)的研究材料的弛豫時(shí)間、活化能等相關(guān)的介電特性。


設(shè)備測(cè)量參數(shù)

溫度范圍: -185~600°C
控溫精度:±0.25°C
升溫斜率:10°C/min(可設(shè)定)
測(cè)試頻率 : 電壓max:10Kv
加熱方式:直流電極加熱
冷卻方式:水冷
輸入電壓:AC 220V

樣品尺寸:φ<25mm,d<4mm
電極材料:黃銅或銀
夾具輔助材料:99氧化鋁陶瓷
低溫制冷:液氮
測(cè)試功能:TSDC

數(shù)據(jù)傳輸:RS-232

設(shè)備尺寸:180mmx210mmx50mm


熱激勵(lì)去極化、熱激勵(lì)極化、等溫極化時(shí)域、等溫電導(dǎo)率時(shí)域、等溫弛豫譜等多種測(cè)量參數(shù):樣品電流、電流密度、電荷變化、介電常數(shù)變化等(增強(qiáng)型)。



可擴(kuò)展部件

高阻計(jì)(可進(jìn)行高低溫下高阻測(cè)量)          

數(shù)字源表(可進(jìn)行高低溫下四探針測(cè)量)        

高壓電源(可進(jìn)行高低溫下TSDC測(cè)量)









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